高温高湿试验箱用于半导体电子元器件行业，用于考核元器件在在高温，高湿的条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程，同时可附带评价产品外观的寝蚀。常用测试条件：Ta = 85℃ 85%RH
特点
测试空间容积为80L,120L,225L，408L,504L,800L，1000L，非标定制等
高效的控制和监控系统，自带集成的测试数据记录功能。
带菜单引导界面的彩色控制面板。
USB接口以太网接口。
具有独立温度测量（Tmin/Tax)功能的试样保护装置。
高速空气循环速率可确保试验区内的温度和湿度分布均匀。
即使在高温环境下也能提供可靠的测试数据值。
低噪声级。
高分辨的彩色触摸屏具有图像显示功能，便于处理环境模拟程序
能耗最小
设计和技术参数：
型号
LS-THT-80
LS-THT-120
LS-THT-225
LS-THT-408
LS-THT-504
LS-THT-800
LS-THT-1000
工作尺寸(CM)
40×50×40
45×60×45
50×75×60
60×85×80
70×90×80
100×100×80
100×100×100
外部尺寸（CM)
100×134×72
107×144×77
120×164×92
122×169×112
140×189×136
162×184×112
162×184×132
温度范围
RT+10~100℃以下
湿度范围
65%~98%RH
升温平均速率
3-5℃/min
温度波动度
±0.5℃
温度均匀度
±1.0℃
温度湿度偏差
±1.0℃ ； ±3.0%RH
内部材质
304SUS不锈钢
外部材质
冷轧板喷塑或304SUS不锈钢
电源
AC:220V/380V 50/60Hz
